X射线荧光分析的原理及应用

 X射线荧【yíng】光分析(XRF)——是对任何【hé】种类的样品进【jìn】行元素分析的好分析技术，无论必需分析【xī】的样【yàng】品是液体、固体还是粉末。XRF可以将高的准确度【dù】和精【jīng】密度与【yǔ】简单和快【kuài】速的样品准备【bèi】结【jié】合，对【duì】铍 (Be) 到铀 (U) 的元素喜迁分析，浓度【dù】范围从【cóng】 100 % 到低至亚【yà】 ppm 级。
 

　　作【zuò】为【wéi】一【yī】种确【què】定各种材料化【huà】学组成【chéng】的【de】一种分析方法，XRF的被测材料可以是固体、液体、粉【fěn】末或【huò】其【qí】它形式。XRF还【hái】可测定镀【dù】层和薄膜的厚度及成分。XRF具【jù】有分析速度快【kuài】、准确【què】度高、不破坏样品及样品【pǐn】前处理简单等特【tè】点。应【yīng】用范【fàn】围广泛【fàn】，涉【shè】及【jí】金属、水泥【ní】、油品、聚合物、塑【sù】料、食品以及矿物、地质【zhì】和环境【jìng】等领域，在医【yī】药研究方面，XRF也是一种非常有用的分析【xī】方法。
 

　　X荧光光谱【pǔ】仪可分为能量色散(EDXRF)和波长色散(WDXRF)两大类，随后将详细【xì】介绍。可【kě】分析的【de】元素及检测限主要取【qǔ】决【jué】于所用的光谱仪系统。EDXRF分【fèn】析的元素从Na到【dào】U； WDXRF分析【xī】的元素从Be到U。浓【nóng】度范围从ppm到100%。通常重【chóng】元素的【de】检测限【xiàn】优于轻【qīng】元素【sù】。